[G01B] 1-1 可倾屏显微镜和可倾屏投影仪
[G01B] 1-2 人体身高无接触测量装置及方法
[G01B] 1-3 检测凸纹线形状的装置（日本）
[G01B] 1-4 倾斜角度传感器
[G01B] 1-5 镜面平整度的美尔条纹测试方法及其装置
[G01B] 1-6 足迹检测仪
[G01B] 1-7 规则平面孔孔心定位半球体
[G01B] 1-8 光纤及其制造方法与该法所用测量设备(荷兰)
[G01B] 1-9 长度测量数显记录仪
[G01B] 1-10 激光测厚仪
[G01B] 1-11 六点接触式平面度高精度测量方法及装置
[G01B] 1-12 球体特别是钢球几何测试仪(匈牙利)
[G01B] 1-13 测量两脚规（德国）
[G01B] 1-14 长光栅付相对转动测角法及应用
[G01B] 1-15 检测三维外壳状态的方法(俄罗斯)
[G01B] 1-16 一种塑料线膨胀系数测定仪
[G01B] 1-17 膜分相动态参数测量设备和方法
[G01B] 1-18 电解率桩孔沉渣测定方法及其装置
[G01B] 1-19 电容式位置传感器
[G01B] 1-20 透明物件厚度的光学测量方法（美国）
[G01B] 1-21 量测装置调整位置时用的支承装置（美国）
[G01B] 1-22 角度或长度测量中光栅信号的电子细分处理方法及其电路
[G01B] 1-23 线性位移测量器（日本）
[G01B] 1-24 活塞环外圆形状测量方法及其测量仪
[G01B] 1-25 光纤位移传感器
[G01B] 1-26 用于检验几何形状的方法及装置（美国）
[G01B] 1-27 一种测定机动车的铰链连接件间的间隙和测量转向角的装置(意大利)
[G01B] 1-28 一种操作简便的高精度大内径测量装置
[G01B] 1-29 渗透探伤覆膜可剥显影剂及其使用方法
[G01B] 1-30 用于确定反射表面形貌的方法和装置（德国）
[G01B] 1-31 高精度大孔径移相式数字平面干涉仪
[G01B] 1-32 位置检出方法及装置（日本）
[G01B] 1-33 磁栅数显长度计量器具
[G01B] 1-34 磁栅码盘
[G01B] 1-35 线条倾斜测量误差自动补偿方法
[G01B] 1-36 一种高精度外径尺寸测量传感器
[G01B] 1-37 曲率规
[G01B] 1-38 特殊磁芯互感式位移传感器
[G01B] 1-39 铁磁材料几何形变的测量方法及装置
[G01B] 1-40 用双波长激光进行外差干涉测量绝对距离系统
[G01B] 1-41 三维测量用探头（日本）
[G01B] 1-42 纤维试样中杂质的测量分类设备和方法（美国）
[G01B] 1-43 游标卡尺类快速调零位修复法
[G01B] 1-44 能够输出单一谐波的光栅位移测量装置
[G01B] 1-45 透明容器壁厚度的测量（美国）
[G01B] 1-46 高精度游标卡尺
[G01B] 1-47 具有多级分度值的量尺游标
[G01B] 1-48 锥角量尺
[G01B] 1-49 应变测定装置（日本）
[G01B] 1-50 高分辨率鉴相式容栅位移传感器
[G01B] 1-51 具有均衡装置的线性位置传感器（美国）
[G01B] 1-52 分束干涉型光学间隔测量中干涉条纹级次的一种识别方法
[G01B] 1-53 倾斜度沉积厚度测试方法及其仪器
[G01B] 1-54 高精度激光腔变位移/折射率测量方法及其装置
[G01B] 1-55 图形测量仪（韩国）
[G01B] 1-56 一种减小超声波测距装置盲区的方法
[G01B] 1-57 测量盲小孔与狭槽的三维测头和测量方法
[G01B] 1-58 流通过程中筛选可回收瓶子的方法(瑞士)
[G01B] 1-59 超精表面粗糙度非接触式光干涉测量法
[G01B] 1-60 构造要素测量仪
[G01B] 1-61 高电压断路器机械特性测试系统及在线诊断方法
[G01B] 1-62 光子隧道扫描图象分解方法及仪器
[G01B] 1-63 高性能光阀式位移传感器
[G01B] 1-64 线材长度计量仪
[G01B] 1-65 用于测量长度和角度的仪器(瑞士)
[G01B] 1-66 用以断续测量金属熔液上的渣层厚度的装置（德国）
[G01B] 1-67 数字显示千分尺（日本）
[G01B] 1-68 位置检测环链码传感方法及编码条带
[G01B] 1-69 激光测距方法
[G01B] 1-70 尺寸测量法和用于实施该方法的标准样品(意大利)
[G01B] 1-71 一种测量物件尺寸的方法和装置(瑞士)
[G01B] 1-72 多功能数字显示式卷尺
[G01B] 1-73 减少电容位置传感器对污染物敏感程度的电介质覆盖层（日本）
[G01B] 1-74 具有位移检测装置的游标控制装置
[G01B] 1-75 差动耦合平板电容器件
[G01B] 1-76 软岩膨胀原位测试仪
[G01B] 1-77 延伸的测量方法及非接触式激光延伸计（日本）
[G01B] 1-78 非接触式三维轮廓实时测量方法和系统
[G01B] 1-79 组合式干涉仪和折射计(英国)
[G01B] 1-80 绝对位置检测装置及其误差补偿方法（日本）
[G01B] 1-81 用于测量长度和角度的方法及其设备(瑞典)
[G01B] 1-82 探头位置测量装置(英国)
[G01B] 1-83 容器尺寸参数的光学检验（美国）
[G01B] 1-84 检测压水核反应堆内上部中导管之导向件的装置与方法(法国)
[G01B] 1-85 踏板行程检测装置（日本）
[G01B] 1-86 测量电缆导线在电缆包皮中位置的设备（德国）
[G01B] 1-87 一种测量位移量的光学细分干涉方法
[G01B] 1-88 目视检查辅助装置及基板检查装置以及使用这些装置的焊点检查方法及修正方法（日本）
[G01B] 1-89 光学测量线卷的卷表面的方法（德国）
[G01B] 1-90 激光粒度仪专用标准粒子样板制备方法
[G01B] 1-91 任意形状岩芯体积、表面积测量方法及装置
[G01B] 1-92 确定物体的几何位置的方法和装置（德国）
[G01B] 1-93 一种测量物体尺寸的方法及其设备
[G01B] 1-94 测量透明材料厚度的方法和装置(法国)
[G01B] 1-95 矿用窄轨车辆连接链拉伸变形量的测定方法
[G01B] 1-96 用于测量物体尺寸的装置和测量物体尺寸时用的度盘（日本）
[G01B] 1-97 带状量具（日本）
[G01B] 1-98 一种凸轮轴综合参数检测仪
[G01B] 1-99 磁感应式传感器全息动态特性测试方法
[G01B] 1-100 用于借助电容检测来确定物体的相应几何位置的方法和装置（德国）
[G01B] 1-101 一种焊条偏心测试及其调节方法
[G01B] 1-102 比例刻度尺
[G01B] 1-103 测量涂层厚度的装置（韩国）
[G01B] 1-104 虚拟双测量仪断面轮廓测量系统（美国）
[G01B] 1-105 阀的行程测量与调整的方法（德国）
[G01B] 1-106 用于测量手指粗细以确定指环大小的电动定径器（美国）
[G01B] 1-107 一种容器口部尺寸参数的光学检测（美国）
[G01B] 1-108 光学间隙测量装置和方法（美国）
[G01B] 1-109 牵伸机，（尤其自调牵伸机）纱并条厚度测量装置（德国）
[G01B] 1-110 非接触测量透明材料制成的被测物厚度的设备（德国）
[G01B] 1-111 一种用于绝对值位移传感器的编码盘(尺)设计方法
[G01B] 1-112 非接触式铁路车轮试验装置及方法（美国）
[G01B] 1-113 利用衍射光学显现表面轮廓的方法和装置（美国）
[G01B] 1-114 激光光盘式角位移传感器
[G01B] 1-115 用激光测量仪测量铸模及相关部件的尺寸的方法（日本）
[G01B] 1-116 扩缩比例尺
[G01B] 1-117 一种横向前射光光纤几何参数和折射率分布测量方法
[G01B] 1-118 无透镜光学垂线坐标仪
[G01B] 1-119 测量偏心转动件的方法和装置（德国）
[G01B] 1-120 检验器件外观用的照明装置和使用该照明装置的器件外观自动检验装置（日本）
[G01B] 1-121 光学膜厚测量方法、成膜方法和半导体激光器制造方法（日本）
[G01B] 1-122 电容式位移测量装置（日本）
[G01B] 1-123 基于图像识别的运动物体测量方法
[G01B] 1-124 纱线的测定装置（日本）
[G01B] 1-125 叠层物品的检验设备（美国）
[G01B] 1-126 电缆测距方法及设备
[G01B] 1-127 媒体检测装置（日本）
[G01B] 1-128 图形测量装置（日本）
[G01B] 1-129 大型工件内外径激光瞄准测量系统及测量方法
[G01B] 1-130 光纤应变传感器及其制作方法(瑞典)
[G01B] 1-131 孔轴混合零部件的测量装置及方法
[G01B] 1-132 薄膜厚度和折射率的成像检测法及其设备
[G01B] 1-133 具有校正功能的图形测量装置（日本）
[G01B] 1-134 卷尺的卷绕装置（日本）
[G01B] 1-135 红外探测装置和用其检测人体的方法（韩国）
[G01B] 1-136 长度测量器(瑞士)
[G01B] 1-137 光栅位移测量装置
[G01B] 1-138 包装薄片折缝位置检测的方法和装置(瑞士)
[G01B] 1-139 图形测量装置（日本）
[G01B] 1-140 间接坐标测量方法及装置
[G01B] 1-141 静电电容式游标卡尺（日本）
[G01B] 1-142 激光片光三维传感系统中降低散斑影响的方法和装置
[G01B] 1-143 利用大的等效波长测量物体表面轮廓的方法及系统（美国）
[G01B] 1-144 碳化铬复合陶瓷块规
[G01B] 1-145 二轴倾斜传感器（日本）
[G01B] 1-146 一种实时测量运动体位移姿态角的装置
[G01B] 1-147 用于旋转压印机中对齐控制装置的光电检测器(瑞士)
[G01B] 1-148 深度传感器（日本）
[G01B] 1-149 利用人工视觉方法测量铁路车辆车轮滚动参数的装置和方法(西班牙)
[G01B] 1-150 用于检测摄录机位移量的方法（韩国）
[G01B] 1-151 旋转编码器（日本）
[G01B] 1-152 利用平面镜偏转的能动目视装置（日本）
[G01B] 1-153 汽车电子控制的自动变速器的位移传感器
[G01B] 1-154 用于测量物体尺寸的装置和测量物体尺寸时用的度盘（日本）
[G01B] 1-155 位移传感器（日本）
[G01B] 1-156 原位传感器件及其方法（韩国）
[G01B] 1-157 阴极射线管电子枪电极平面度的测量装置（韩国）
[G01B] 1-158 检查结果输出装置和方法及基板检查系统和方法（日本）
[G01B] 1-159 矩阵传感器及其制造方法（日本）
[G01B] 1-160 卷尺尺面覆层的处理方法
[G01B] 1-161 图形测定装置（日本）
[G01B] 1-162 大直径轴盘类工件直径的测量方法及装置
[G01B] 1-163 大直径轴盘类工件直径的测量方法及装置
[G01B] 1-164 一种曲面形状的测量方法
[G01B] 1-165 轴状部件的表面缺陷检查方法与装置（日本）
[G01B] 1-166 采用现场可编程门阵列逻辑的容器检查系统（美国）
[G01B] 1-167 具有两步内插的内插脉冲发生装置（日本）
[G01B] 1-168 测量微结构深度的方法（德国）
[G01B] 1-169 测量双折射层厚度的方法及其装置（日本）
[G01B] 1-170 改进的位置编码器(英国)
[G01B] 1-171 旋转斜细光束的薄透明层厚度的干涉测量方法及其装置
[G01B] 1-172 数字式游标卡尺介面电路
[G01B] 1-173 测量触针组件(英国)
[G01B] 1-174 用以测量纤维条厚度和/或不匀率的装置(瑞士)
[G01B] 1-175 感应电流位置传感器（日本）
[G01B] 1-176 用于荫罩的椭圆激光探测器（美国）
[G01B] 1-177 胎纹深度测量装置(爱尔兰)
[G01B] 1-178 物体观测设备和方法（日本）
[G01B] 1-179 组合式三坐标传感器及其使用方法
[G01B] 1-180 图形测定装置（日本）
[G01B] 1-181 一种纸厚动态测量技术
[G01B] 1-182 表面微结构检测系统及其检测方法
[G01B] 1-183 手动三维坐标测量机（日本）
[G01B] 1-184 用于检测显示图像的投影系统的投影角的装置（韩国）
[G01B] 1-185 双向全角度微机测量装置和方法
[G01B] 1-186 设有能覆盖宽检测范围的光束发生器的位置传感器（日本）
[G01B] 1-187 电路板的识别装置和识别方法（日本）
[G01B] 1-188 摄像测实际空间长度的方法和光学系统校正法及其基准规（日本）
[G01B] 1-189 分相式高分辨率容栅位移传感器
[G01B] 1-190 “位置数和“等分定位方法及装置
[G01B] 1-191 扫描装置和方法(英国)
[G01B] 1-192 计量点到设计曲面距离的方法
[G01B] 1-193 感应位移传感器(瑞士)
[G01B] 1-194 全“位置数和”等分定位装置及方法
[G01B] 1-195 千分尺（日本）
[G01B] 1-196 具有原子分辨率的精密定位装置（美国）
[G01B] 1-197 倾斜传感器以及采用它的测量仪（日本）
[G01B] 1-198 图形测定装置（日本）
[G01B] 1-199 光纤耦合干涉式位移传感器（美国）
[G01B] 1-200 工作台垂直位移测量装置（韩国）
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[G01B] 2-1 光学位置传感器（美国）
[G01B] 2-2 用激光测量仪测量铸模或铸模配套件尺寸的方法（日本）
[G01B] 2-3 应用小功率电感式位置传感器的电子卡尺（日本）
[G01B] 2-4 移动物体检测用栅尺及用此栅尺进行移动物体检测的装置（日本）
[G01B] 2-5 电容性位置变换器中快速取样的方法和装置（日本）
[G01B] 2-6 光学式测定装置（日本）
[G01B] 2-7 坐标检测装置,其方法和游戏装置（日本）
[G01B] 2-8 汽车轴距差检测方法及装置
[G01B] 2-9 测定长度或角度的仪器(瑞士)
[G01B] 2-10 位置传感器（德国）
[G01B] 2-11 激光轴对中仪
[G01B] 2-12 用于电子显示纱线质量的系统和方法（美国）
[G01B] 2-13 用于动态负载连续监测的方法和装置(挪威)
[G01B] 2-14 电荷耦合器直接细分光栅位移传感器及其实现方法
[G01B] 2-15 雷射测定硬管管厚的控制方法
[G01B] 2-16 三维形状测量装置（日本）
[G01B] 2-17 搜集纸张使用数据的系统和方法（美国）
[G01B] 2-18 卧式罐直径的测量方法
[G01B] 2-19 千分表（日本）
[G01B] 2-20 利用球形探头的坐标测量装置（日本）
[G01B] 2-21 利用光反射测量表面形貌的方法
[G01B] 2-22 高速动态偏心率检测设备和方法（日本）
[G01B] 2-23 千分表壳体及其制造方法（日本）
[G01B] 2-24 通用大直径测量规及其测量方法
[G01B] 2-25 一种测量铁路车辆车轮偏置距的装置(西班牙)
[G01B] 2-26 三维测量装置和三维测量方法（日本）
[G01B] 2-27 测量铁磁导电基体上的非铁磁导电层厚度的方法和装置(比利时)
[G01B] 2-28 千分表转换机构（日本）
[G01B] 2-29 一种超长位移传感器
[G01B] 2-30 物体高度测量设备（韩国）
[G01B] 2-31 用以测量制造物体尺寸的设备和方法（韩国）
[G01B] 2-32 电动数显卷尺及电动电子计算器组合卷尺
[G01B] 2-33 一种用于测量在板的内表面上的金属膜厚度的装置（韩国）
[G01B] 2-34 热轧精轧卷取测宽仪抗干扰方法及装置
[G01B] 2-35 磁性编码器（日本）
[G01B] 2-36 一种用于测量造纸机头箱(he（美国）dbox)上的间距的方法及设备(奥地利)
[G01B] 2-37 光学位移检测装置（日本）
[G01B] 2-38 绝对式多码盘光电轴角编码器
[G01B] 2-39 光学头物镜倾斜度测量装置（韩国）
[G01B] 2-40 汽车前轮定位主销后倾角测量仪
[G01B] 2-41 环形多层基岩变形测定装置（日本）
[G01B] 2-42 小型、低成本的半导体仪器（美国）
[G01B] 2-43 一种杠杆三维拨动式物位开关
[G01B] 2-44 自适应反馈控制下的磁场定位系统（美国）
[G01B] 2-45 人工智能测量及其编程方法
[G01B] 2-46 静电电容式位移测量装置（日本）
[G01B] 2-47 经济型高精度内孔测量器
[G01B] 2-48 一种高精度鉴相型容栅传感器的制作原理及方法
[G01B] 2-49 具有0.01纳米分辨率的原子光栅测量方法
[G01B] 2-50 内径测量卡尺
[G01B] 2-51 求圆心用规尺（日本）
[G01B] 2-52 测量方法及测量装置（日本）
[G01B] 2-53 双列圆锥滚子轴承轴向游隙测量方法
[G01B] 2-54 扫描器（日本）
[G01B] 2-55 偏振光直线位移检测方法和传感器
[G01B] 2-56 激光双焦干涉球面轮廓仪
[G01B] 2-57 位置检测系统和方法（日本）
[G01B] 2-58 利用码轨道型标尺和读出头的感应电流式绝对位置传感器（日本）
[G01B] 2-59 将测量头紧固于车轮轮辋的轴测试夹紧机构（德国）
[G01B] 2-60 拱坝三维变形全自动追迹监测方法
[G01B] 2-61 具有延伸成像深度的莫阿干涉测量系统和方法（美国）
[G01B] 2-62 超声波发送机与接收机（日本）
[G01B] 2-63 千分尺（日本）
[G01B] 2-64 测量位移的方法及位移传感器
[G01B] 2-65 具有至少五个自由度的目标物的位置检测系统(荷兰)
[G01B] 2-66 测量装置、测量装置用触头及测量方法（日本）
[G01B] 2-67 用于测定涂覆在感应式借方卡上的付款单元中的薄膜厚度和图形对正的装置和方法(巴西)
[G01B] 2-68 减少偏差的高精度感应电流位置传感器（日本）
[G01B] 2-69 变应监测系统（美国）
[G01B] 2-70 线行位移传感器的芯组及其制造方法（日本）
[G01B] 2-71 应变检测装置（美国）
[G01B] 2-72 绝对距离测量的波长扫描干涉系统及其信号处理方法
[G01B] 2-73 一种光学接触式测量方法和使用该方法的微型三维测头
[G01B] 2-74 光束方向微小漂移检测系统
[G01B] 2-75 倾斜检测装置（日本）
[G01B] 2-76 位移传感器及其形成目标特征部分的方法（美国）
[G01B] 2-77 平坦度测量辊（德国）
[G01B] 2-78 车辆轮胎宽度和轮距的检测装置及方法（韩国）
[G01B] 2-79 测量器（日本）
[G01B] 2-80 传感方法和装置（美国）
[G01B] 2-81 金属基体表面非金属涂层厚度非接触测量方法及其装置
[G01B] 2-82 采用复式光栅对加工/测量误差进行实时修正的方法及装置
[G01B] 2-83 表面形状的测量(英国)
[G01B] 2-84 线性光栅系统
[G01B] 2-85 超声波多次脉冲回波测微系统
[G01B] 2-86 微小型轴承滚道粗糙度测试仪
[G01B] 2-87 激光准直测量形位公差的方法
[G01B] 2-88 千分表及其圆筒状构件的制造方法（日本）
[G01B] 2-89 文杜里式气电转换电子柱量仪
[G01B] 2-90 遥控测量系统（日本）
[G01B] 2-91 测定器
[G01B] 2-92 X、Y、Z轴相对判读检测方法及其装置
[G01B] 2-93 确定导电材料组成的涂层厚度的方法（德国）
[G01B] 2-94 利用阴影莫阿干涉纹技术测量表面平度的系统（美国）
[G01B] 2-95 确定光学样品厚度的方法（美国）
[G01B] 2-96 探针坐标系统驱动装置（日本）
[G01B] 2-97 电子元器件的外观检查方法（日本）
[G01B] 2-98 一种莫尔相位解调方法
[G01B] 2-99 倾斜补偿的感应电流位置传感器（日本）
[G01B] 2-100 表面晶体缺陷的测量方法及装置（日本）
[G01B] 2-101 多功能超极限千分尺
[G01B] 2-102 “位置数和”等分定位装置的组合使用方法
[G01B] 2-103 “位置数和”等分定位方法及装置
[G01B] 2-104 具有多抽头接收器线圈的电感性位置传感器（日本）
[G01B] 2-105 橡胶部件轮廓激光在线检测装置
[G01B] 2-106 高分辨表面等离子体波角度/折射率传感器
[G01B] 2-107 表征长纺织料测试样品特性的方法(瑞士)
[G01B] 2-108 弯折机用角度检测方法、角度检测装置及角度传感器（日本）
[G01B] 2-109 轮径测量装置
[G01B] 2-110 用于行程传感缸的绝对位置检测方法（韩国）
[G01B] 2-111 无方向性接触信号探测器（日本）
[G01B] 2-112 导轨测量装置（美国）
[G01B] 2-113 用于大型零件的便携式激光数字化系统（美国）
[G01B] 2-114 有源反射式光测距器（美国）
[G01B] 2-115 测定瞬时角位置的仪器(瑞典)
[G01B] 2-116 激光扫描力显微镜
[G01B] 2-117 用于鉴定纤维卷曲度的装置和方法（美国）
[G01B] 2-118 一种应用微型惯性测量组合进行三维位置测量的方法
[G01B] 2-119 跨式检查系统（美国）
[G01B] 2-120 涡流电流检测技术 (荷兰)
[G01B] 2-121 去除毛刺方法(瑞典)
[G01B] 2-122 光学测量(英国)
[G01B] 2-123 圆形截面细长物体直径的测量方法（德国）
[G01B] 2-124 轮胎状态评估装置和方法(英国)
[G01B] 2-125 千分表（日本）
[G01B] 2-126 容器壁厚的测量（美国）
[G01B] 2-127 改进型电容性位移传感器
[G01B] 2-128 一种快速投影结构光的三维轮廓相位测量方法及装置
[G01B] 2-129 电容测微器(英国)
[G01B] 2-130 直动式容栅数显千分尺
[G01B] 2-131 波度测量(瑞典)
[G01B] 2-132 光纤光栅横向应变传感器系统（美国）
[G01B] 2-133 目标的三维观测方法和装置（德国）
[G01B] 2-134 用于磁测量装置和测量方法的电子电路(瑞士)
[G01B] 2-135 气动电测式位置传感器
[G01B] 2-136 千分尺（日本）
[G01B] 2-137 提高对目标的三维观测的显著性的方法（德国）
[G01B] 2-138 测量薄膜厚度的球面方法
[G01B] 2-139 测量导管变形的方法和装置(法国)
[G01B] 2-140 锯片测量装置（德国）
[G01B] 2-141 磁力泵内外磁转子偏心监测方法及装置
[G01B] 2-142 玻璃容器侧壁厚度的测量（美国）
[G01B] 2-143 一种起重机主梁下挠度激光检测方法及装置
[G01B] 2-144 用于产生光学线性标尺初始信号的装置（日本）
[G01B] 2-145 有涂层材料的厚度的测量装置和方法（美国）
[G01B] 2-146 纺织品性能测量装置(瑞士)
[G01B] 2-147 探测衬底的方法（美国）
[G01B] 2-148 用于角度及角位移传感器的时空转换装置
[G01B] 2-149 机械工件线性尺寸检查头(意大利)
[G01B] 2-150 进行光学检取的方法和装置（德国）
[G01B] 2-151 俯仰角度测量系统（美国）
[G01B] 2-152 集成干涉仪(英国)
[G01B] 2-153 电容编码器
[G01B] 2-154 三维形状测量装置及使用了该装置的三维雕刻装置（日本）
[G01B] 2-155 一种减小超声波测距装置盲区的方法
[G01B] 2-156 用于三维彩色扫描的方法和装置（美国）
[G01B] 2-157 一种电容式数显卡尺
[G01B] 2-158 以光学方式测量半导体器件的电介质厚度的系统和方法（德国）
[G01B] 2-159 检测印刷电路板上的乳状焊剂的装置及其方法（韩国）
[G01B] 2-160 任一角三等分多用尺
[G01B] 2-161 位移传感器（韩国）
[G01B] 2-162 量算弯淬肋骨曲率半径的方法及装置
[G01B] 2-163 用于测量多节伸缩臂长度的方法和装置（美国）
[G01B] 2-164 平衡的坐标定位机(英国)
[G01B] 2-165 按钮锁定式卡尺
[G01B] 2-166 交通工具用化粪池粪便高度感测机构
[G01B] 2-167 光纤偏振光干涉位移和振动测量仪
[G01B] 2-168 一种用于液压缸的位置检测装置（日本）
[G01B] 2-169 检测光波导毛坯的纤芯/包层分界面的方法和设备（美国）
[G01B] 2-170 卷尺尺条表面涂装成型加工法
[G01B] 2-171 一种测算商品房销售面积的方法
[G01B] 2-172 用来测量位移的系统（美国）
[G01B] 2-173 用于测定铁路用车轮不圆度和直径的装置及方法(西班牙)
[G01B] 2-174 固体速度及长度非接触测量系统
[G01B] 2-175 用于长度测量的装置(瑞士)
[G01B] 2-176 共焦干涉显微镜的背景补偿（美国）
[G01B] 2-177 拼装式高精度防潮数显卡尺
[G01B] 2-178 电子千分尺(瑞士)
[G01B] 2-179 钢板长度在线测量的光电空间滤频方法及其检测装置
[G01B] 2-180 拓扑和运动测量工具(加拿大)
[G01B] 2-181 位置测量设备和设定倾斜的回转激光设备（日本）
[G01B] 2-182 用于校准元件的装置和方法（韩国）
[G01B] 2-183 包括指纹读出装置的电子设备(荷兰)
[G01B] 2-184 水下位移测量方法及其测量装置
[G01B] 2-185 三维形状的测定装置（日本）
[G01B] 2-186 一种具有透磁的磁通量导向标板的角位移传感器(加拿大)
[G01B] 2-187 测微计（日本）
[G01B] 2-188 电容型位移测量装置（日本）
[G01B] 2-189 干涉仪和采用干涉仪的测量方法（日本）
[G01B] 2-190 高精度便携电子游标卡尺(瑞士)
[G01B] 2-191 车辆用单摄像机的三维观测系统（日本）
[G01B] 2-192 用椭偏法测量临界尺寸的设备和方法（德国）
[G01B] 2-193 一种自动在线测径的方法及其装置
[G01B] 2-194 测量影像感测晶片偏移的系统与方法
[G01B] 2-195 地铁车轮踏面形状检测仪
[G01B] 2-196 一种预涂感光版砂目的测试方法及设备
[G01B] 2-197 测定内燃机气缸内运动副状态的方法与装置(瑞士)
[G01B] 2-198 漂白组合物（美国）
[G01B] 2-199 金电极表面积和表面覆盖度的测量方法
[G01B] 2-200 非接触式平面特征三维自动测试仪
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